Hostname: page-component-78c5997874-8bhkd Total loading time: 0 Render date: 2024-11-18T01:15:27.044Z Has data issue: false hasContentIssue false

Electronic Structure Characterization of the Bi-YIG by EELS-STEM

Published online by Cambridge University Press:  05 August 2019

N. Herrera-Pineda*
Affiliation:
Facultad de Ciencias Químicas, Universidad Autónoma de Chihuahua, Circuito Universitario s/n campus II, Chihuahua, Chih. 31125, Mexico.
M. García-Guaderrama
Affiliation:
Laboratorio de Materiales y Sistemas Fotosensibles, CUCEI, Universidad de Guadalajara, Av. José Guadalupe Zuno # 48, Industrial los Belenes, Zapopan, Jalisco 45100, Mexico.
G. Herrera-Pérez*
Affiliation:
Catedrático CONACyT, Centro de Investigación en Materiales Avanzados S. C. Miguel de Cervantes 120, Chihuahua, Chih. 31136, México.
M. E. Fuentes-Montero
Affiliation:
Facultad de Ciencias Químicas, Universidad Autónoma de Chihuahua, Circuito Universitario s/n campus II, Chihuahua, Chih. 31125, Mexico.
J. M. Napóles-Duarte
Affiliation:
Facultad de Ciencias Químicas, Universidad Autónoma de Chihuahua, Circuito Universitario s/n campus II, Chihuahua, Chih. 31125, Mexico.
J. P. Palomares-Baez
Affiliation:
Facultad de Ciencias Químicas, Universidad Autónoma de Chihuahua, Circuito Universitario s/n campus II, Chihuahua, Chih. 31125, Mexico.
C. Ornelas-Gutierrez
Affiliation:
Laboratorio Nacional de Nanotecnología, Centro de Investigación en Materiales Avanzados S. C. Miguel de Cervantes 120, Chihuahua, Chih. 31136, México.
R. Ochoa-Gamboa
Affiliation:
Laboratorio Nacional de Nanotecnología, Centro de Investigación en Materiales Avanzados S. C. Miguel de Cervantes 120, Chihuahua, Chih. 31136, México.
W. Antunez-Flores
Affiliation:
Laboratorio Nacional de Nanotecnología, Centro de Investigación en Materiales Avanzados S. C. Miguel de Cervantes 120, Chihuahua, Chih. 31136, México.

Abstract

Image of the first page of this content. For PDF version, please use the ‘Save PDF’ preceeding this image.'
Type
Current Trends and Challenges in Electron Energy-Loss Spectroscopy
Copyright
Copyright © Microscopy Society of America 2019 

References

[1]Zhao, H, Zhou, J, Bai, Y, Gui, Z, and Li, L, J. Magn. Magn. Mater. 280 (2004), 208213.Google Scholar
[2]Ishibashi, T, Kosaka, T, Naganuma, M and Nomura, T, J. Phys. Conf. Ser. 200 (2010), 112002.Google Scholar
[3]Stavitski, E and de Groot, F M F, Micron, 41 (2010) 687-694Google Scholar
[4]Durán, A, et al. , J. Appl. Phys. 122 (2017), 134101.Google Scholar
[5]Schneider, C A, Rasband, W S and Eliceiri, K W, Nature Methods 9 (2012), 671-675.Google Scholar
[6]Lábár, J L, Ultramicroscopy, 103 (2005), 237-249.Google Scholar
[7]Pattrick, R A D, et al. , Eur. J. Mineral. 14 (2002),10951102.Google Scholar
[8]N Herrera thanks for the CONACyT PhD scholarship. G Herrera-Pérez acknowledge funding from the Basic Research Project 2015 CONACyT-SEP Grant No. 253605, Cátedra CONACyT Grant No. 2563 and CONACyT-SNI 1 support.Google Scholar