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Influence des macles sur le courant critique de transport selon c et sur la ligne d'irréversibilité dans les plans ab étudiée dans des échantillons monodomaines texturés d'YBaCuO*

Published online by Cambridge University Press:  15 February 1998

S. Sanfilippo ,
A. Sulpice ,
D. Bourgault ,
C. Villard ,
P. Gautier-Picard ,
X. Chaud ,
E. Beaugnon  and
R. Tournier
S. Sanfilippo*
Affiliation:
Élaboration par Procédés Magnétiques-Matformag, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9
A. Sulpice
Affiliation:
Centre de Recherches sur les Trés Basses Températures CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9
D. Bourgault
Affiliation:
Élaboration par Procédés Magnétiques-Matformag, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9
C. Villard
Affiliation:
Élaboration par Procédés Magnétiques-Matformag, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9
P. Gautier-Picard
Affiliation:
Élaboration par Procédés Magnétiques-Matformag, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9
X. Chaud
Affiliation:
Élaboration par Procédés Magnétiques-Matformag, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9
E. Beaugnon
Affiliation:
Élaboration par Procédés Magnétiques-Matformag, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9
R. Tournier
Affiliation:
Élaboration par Procédés Magnétiques-Matformag, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9
*
sanfilipo@labs.polycnrs-gre.fr
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Abstract

La densité de courant critique selon l'axe c (Jc) est mesurée à 77 K en transport et par des mesures magnétiques sur les mêmes échantillons texturés monodomaines d'YBaCuO. L'influence des plans de macles (TP) sur Jc et sur la ligne d'irréversibilité $B(T^*$) est étudiée en faisant tourner le champ dans les plans ab, perpendiculairement à l'axe c. Les résultats montrent que dans ces composés, Jc et $B(T^*$) sont fortement influencés par le piégeage par les TP. Divers comportements des lignes de flux résultant de l'influence de ces défauts corrélés sont proposés selon les gammes de température et de champ étudiées.

Keywords

Type
Research Article
Information
The European Physical Journal - Applied Physics , Volume 1 , Issue 2 , February 1998 , pp. 173 - 176
Copyright
© EDP Sciences, 1998

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Footnotes

*

Le contenu de cet article a été présenté aux 4es journées d'étude SEE "Matériaux Supraconducteurs à haute Tc" de Caen, les 26 et 27 mars 1997.

References

* Le contenu de cet article a été présenté aux 4es journées d'étude SEE "Matériaux Supraconducteurs à haute T c" de Caen, les 26 et 27 mars 1997.